Infineon lanserar ny MOSFET-standard för tillförlitlighetstest av kiselkarbid
Saida Semiconductor
500 kHz
De
MOSFET
SiC MOS
SiC MOSFET
De
standard
tur
cykel
bil
veck
fuktighet
cykel
tv
duk
HTC
utveckla
industri
bil
2024-12-20 09:22
2
Infineon har utvecklat en unik uppsättning tillförlitlighetsteststandarder för sina SiC MOSFET-produkter, inklusive gate-stresstest (GSS) och AC-fuktighets- och temperaturcykeltest (AC-HTC) vid 500 kHz omkopplingsfrekvens. Dessa tester är utformade för att säkerställa högre tillförlitlighet hos SiC MOSFETs i applikationer inom industrier som bilindustrin.
