Infineon lanceert een nieuwe betrouwbaarheidsteststandaard voor siliciumcarbide MOSFET

Infineon heeft een unieke reeks betrouwbaarheidstestnormen ontwikkeld voor zijn SiC MOSFET-producten, waaronder gate stress test (GSS) en AC-vochtigheids- en temperatuurcyclustest (AC-HTC) bij een schakelfrequentie van 500 kHz. Deze tests zijn ontworpen om een ​​hogere betrouwbaarheid van SiC MOSFET's te garanderen in toepassingen in industrieën zoals de automobielsector.