GEZE FTIR utstyr for måling av filmtykkelse er levert til mange kjente selskaper

GEZEs FTIR-filmtykkelsesmåleutstyr er levert til mange kjente halvlederbedrifter som sentrale virksomheter, statseide virksomheter og børsnoterte wafer-selskaper, og brukes i batchmåling av epitaksiale lag av silisiumkarbid og silisiumskiver.