Novi napredak u istraživanju SiC materijala

0
Nedavni napredak istraživanja pokazuje da poboljšanjem CnCV tehnologije i QUAD tehnologije mapiranja možemo točnije razumjeti i mjeriti svojstva SiC materijala. To će pomoći u promicanju primjene SiC materijala u automobilskoj i drugim industrijama.