Equipe da Universidade de Pequim resolve problema de desvio de tensão de limite dinâmico de dispositivos de energia baseados em GaN

A equipe de pesquisa da Universidade de Pequim resolveu com sucesso o problema de desvio de tensão limite dinâmico de dispositivos de energia baseados em GaN, propondo uma nova estrutura de dispositivo de metal/camada isolante/p-GaN. Essa tecnologia não apenas atinge redundância de tensão de porta de quase 20 V, mas também elimina desvios dinâmicos de tensão limite.