Xi'an Yisiwei Material Technology Co., Ltd. en Xi'an Yisiwei Silicon Wafer Technology Co., Ltd. delen de China Patent Excellence Award

De technologie voor de controle van de kristalgroeidiameter, apparaat, uitrusting en computeropslagmedium, gezamenlijk ontwikkeld door Xi'an Yisiwei Material Technology Co., Ltd. en Xi'an Yisiwei Silicon Wafer Technology Co., Ltd. heeft hen in staat gesteld gezamenlijk de overwinning te behalen de 25e China Patent Excellence Award. Het succes van dit samenwerkingsmodel heeft nieuwe ontwikkelingsideeën opgeleverd voor andere bedrijven in de branche.