Die Verenigde State ondersteun die Chips Metrology-projek met 'n belegging van US$109 miljoen

Die Amerikaanse regering sal US$109 miljoen belê om die Chips Metrology-projek te ondersteun. Hierdie projek het ten doel om gevorderde metrologietegnologie na te vors en te ontwikkel om die akkuraatheid en kwaliteit van halfgeleiervervaardiging te verbeter. Dit sal help om die Verenigde State se leidende posisie in die halfgeleierbedryf te verbeter.